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高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber

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产品名称: 高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber
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简单介绍

高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber适用于考核产品(整机)、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力,该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber


高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber  的详细介绍



高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber


高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber简介:本试验箱适用于考核产品(整机)、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力,该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。

高低温冲击试验箱 High And Low Temperature Shock Test Chamber技术参数

型号

单位

TS-60

TS-120

TS-120P

TS-300

TS-300P

测试空间容积

L

60

120

120

300

300

移动提篮最大负载

Kg

20

50

50

100

100

实验空间尺寸,高(H×宽(W×深(D

mm

370x380x430

410x470x650

410x470x650

610x770x650

610x770x650

热箱温度范围

+50 至 +220

+50 至 +220

+50 至 +220

+50 至 +220

+50 至 +220

冷箱温度范围

-80至 +70

-80至 +70

-80至 +70

-80至 +70

-80至 +70

热箱升温速率

K/min

17

14

18

11

23

冷箱降温速率1

K/min

3.7

6.3

7.5

5.0

12.0

冷箱升温速率,单箱操作1

K/min

3.7

2.0

2.0

1.5

1.5

温度波动度2

K

±0.3 至±1.0

±0.3 至±1.0

±0.3 至±1.0

±0.3 至±1.0

±0.3 至±1.0

温度均匀性3

K

±0.5 至±2.0

±0.5 至±2.0

±1.0至±2.0

±0.5 至±2.0

±1.0至±2.0

/冷箱转换时间

sec

<10

<10

<10

<10

<10

恢复时间-温度变化测试

min

<154

<155

<126

<157

<158

热箱校准值9

+125

+125

+125

+125

+125

冷箱校准值9

-40

-40

-40

-40

-40

1根据IEC 60068-3-5.通过选择提升/降低热箱/冷箱温度来提高温度变化速率.

2有效测试空间中心点。

3基于设置点:温度范围-65 to +200

4MIL-STD-883E,方法 1010.9,强度级 D4.5 kglCs 分布于2个样品架内,样品内测量.

5MIL-STD-883J,方法 1010.9,强度级 D12 kglCs 分布于3个样品架内,样品内测量.

6MIL-STD-883F,方法1010.9,强度级 D20 kgCs 分布于3个样品架内,样品内测量.

7MIL-STD-883J,方法 1010.9,强度级 F25 kg lCs 分布于3个样品架内,样品内测量.

8MIL-STD-883 F,方法 1010.9,强度级 F50 kglCs 分布于3个样品架内,样品内测量.

9出厂计量.


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